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Shenzhen International Cross-border E-commerce Trade Fair 2019

2019 第三屆深圳國際跨境電商交易博覽會

2019.11.03

www.icbeexpo.com

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展會新聞

展商精選丨瑟米萊伯,光伏、半導體、平板、LED領域檢測設備供應商

2023-05-30 11:40:49


公司簡介

SEMILAB(展位號:4D36)成立于1989年,是一家全球領先的檢測設備供應商,擁有先進的電學、光學測試技術,產品被廣泛應用于光伏、半導體、平板、LED和科學研究等領域。公司總部位于匈牙利布達佩斯,在美國、中國設有研發與生產中心,在歐洲和亞洲主要國家和地區都設有分支機構。


瑟米萊伯透明logo.png

自2004年以來,Semilab相繼收購了一系列公司和光學、電學測試技術,到目前為止已經擁有超過150項專利技術,成長為泛半導體行業領先的測試設備供應商,給客戶的產品監控和質量控制提供完整的解決方案。

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瑟米萊伯全球分支機構


推薦產品

FPT測試平臺

在平板顯示行業,Semilab推出了FPT系列檢測平臺,該平臺可覆蓋從2.5代到11代玻璃基板的平板顯示產線,滿足不同工序段的在線測試需求。

FPT測試平臺.jpg


SEMI測試平臺

針對快速發展的微顯示技術,Semilab推出了基于半導體工業的晶圓測試平臺,可以應用于硅基OLED、Micro LED等顯示技術,滿足不同尺寸的晶圓及玻璃圓片的在線工藝測試。

SEMI測試平臺.jpg
兩種產品都可以集成Semilab不同的檢測技術,包括電學特性、光學特性和表面形貌分析,給用戶提供高效的定制化測試方案。
產品特點:
① 業界領先的光學、電學測試技術,包括薄膜膜厚及光學性能測試、半導體薄膜的電學性能表征、薄膜電學/光學缺陷測試和微觀結構表面形貌測試等等。
② Semilab在半導體行業光學、電學檢查領域擁有眾多的技術,包括SE,SR,μ-PCR,PL,SAW,AFM等等,可以根據客戶的需求,實現靈活的定制化測試方案。


用于研發、質控的測試設

對于平板顯示客戶的研發和質控部門,Semilab憑借著業界領先的光學、電學測試技術和豐富的應用經驗,可以提供一系列光學、電學測試設備和方案,滿足客戶靈活的測試需求。

·汞探針CV測試儀:

MCV測試儀采用氣動控制,通過無損傷和頂部汞接觸的探頭設計,消除了對貴金屬或多晶硅沉積工藝的需求。設備具有極其穩定的接觸面積,僅使用少量汞就可以進行高重復性的C-V和I-V測量,廣泛用于工藝開發和生產過程監控,是半導體/外延層和介電層表征的卓越技術。
汞探針CV測試儀.png

·光譜型橢偏儀:

- 非破壞性光學技術,基于測量在非垂直入射時,光在樣品表面反射前后偏振狀態的變化,來獲取樣品的厚度、折射率和消光系數等信息。 

- 即使對于低于5nm的薄膜厚度,也具有高度的靈敏度的技術。

- 通用的技術:可測試多層材料的多種物理參數(例如厚度,折射率,吸收系數,孔隙率)。

光譜橢偏儀.png

·拉曼光譜測試儀:

拉曼光譜是一種能夠實現實時監測和表征的方法。該方法基于拉曼效應,該效應描述了固體材料晶格振動(聲子)所涉及到的彈性散射光。從散射光的能量偏移,強度和偏振狀態中,可以獲得有關固體本身性質的豐富信息。

拉曼光譜測試.png

·原子力顯微鏡:

- Semilab在掃描探針顯微鏡應用領域和制造領域擁有豐富的經驗,可幫助用戶在最短的時間內獲得最佳和最可靠的結果。

- Semilab AFM設備的緊湊設計保證了出色的穩定性和掃描速率。獨特的即插即用懸臂更換確保了儀器的快速和安全操作。

- Semilab AFM平臺允許將Semilab AFM探頭安裝到載物臺和其他設施中,如納米壓痕器或光學顯微鏡。

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·納米壓痕測試儀:

納米壓痕是定量測試微量材料力學性能的關鍵技術。該技術是測量硬質薄膜、多相金屬、陶瓷、軟膜、半導體、生物材料和塑料等材料的彈性、塑料和粘彈性性能的成熟方法。

納米印痕測試儀.png

·微波光電導衰退測試儀:

微波光導衰減(μ-PCD)載流子測試儀器,用于晶圓制造和太陽能電池制造中的進料晶圓檢測,質量控制和過程監控。微波誘導光導衰變法是測量硅中少數載流子壽命的最常用方法。這種方法因其可靠性,良好的再現性和較短的測量時間而脫穎而出,可以進行高分辨率的全面掃描。

微波光電導衰退測試儀.png

·渦流法電阻測試儀:

渦流法電阻測試儀可對薄層電阻進行快速、無損測量,在平板顯示行業可以用于ITO等導電薄膜進行在線電阻監控。

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